第一届中国微电子计量与测试技术研讨会（CMMT2008）征文通知

2008 Chinese Microelectronic Measure and Test Symposium

武汉 2008.10.15～16

研讨会主题

微电子技术已成为当代技术革命的核心。微电子技术的发展，离不开计量与测试。当前，微电子器件的发展呈现规模愈来愈大、结构愈来愈复杂、功能愈来愈强大的特点，使微电子器件参数以及参数测量设备的计量与测试面临极大的挑战。在我国科技创新的形势下，迫切需要加强学术界与工业界的交流和沟通，使我国拥有自己的核心技术。长期以来，我国科技工业出于对产品质量和量值准确可靠的严格要求，逐步在微电子计量测试方面形成了自身特色，拥有了一批先进的计量测试标准和技术成果。为了共同提高我国微电子计量与测试技术水平，拟于2008年10月15～16日在武汉召开第一届中国微电子计量与测试技术研讨会（2008 Chinese Microelectronic Measure and Test Symposium, 简称 CMMT2008）。欢迎从事微电子计量与测试理论研究、应用研究以及相关工作的专家、学者以及研究生们踊跃投稿。

 中国微电子计量与测试技术研讨会计划每两年召开一次，今后逐步将它办成展示和交流微电子计量测试领域最新技术、产品与标准的国内最具代表性的专业平台。

主办单位

• 国防科技工业微电子一级计量站
• 中船重工第七〇九研究所

论文投稿与出版

投稿的论文要求反映当前微电子计量与测试及相关领域的最近工作或成就，必须是未公开发表的原始论文。

CMMT2008会议的投稿稿件要求是Word电子文档或者PDF电子文档,论文具体格式请按照大会主页(http://www.cmmt.org/cmmt2008/)提供的Word模板进行排版。投稿者可以采用电子邮件或者邮局邮寄包含电子文档的光盘进行投稿。具体的方式如下：

电子邮件邮箱：cmmt2008@gmail.com

光盘邮寄地址：武汉市74223信箱6分箱 CMMT2008组委会收，邮编430074。

会议录用的论文将出版论文集，大会评选的优秀论文将推荐到国内核心期刊发表。